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晶硅電池終品分選模塊
產品介紹
技術參數
產品優勢
缺陷圖例
晶硅電池隱裂檢測
主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測
產品型號:LP
solar
-SC100
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驗證
技術參數
產能
≥3600片/小時
最高檢測精度
150μm
設備有效時間
99%
破片率
<0.05%(傳輸剔除)
重復性
99.85%
電壓
220V AV
功率
≤1000W
產品優勢
一體化
隱裂碎片檢測模塊
全定制光學系統(售價更低,性能更好)
高效AI算法(算法時間100ms以內)
缺陷圖例
隱裂缺陷-1
隱裂缺陷-2
隱裂缺陷-3
隱裂缺陷-4
隱裂缺陷-5
隱裂缺陷-6
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